Zl0系列的发射机，配备了可以测试系统内部各种参数的测试菜单。如果你想进入诊断系统的测试菜单，按[HOME，MORE，TEST]，就出现诊断显示屏幕，这个屏幕提供了两个选择项：系统测试SYSTEMTEST;控制硬件测试CONTROLHARDWARE。
系统测试：进行系统测试的目的，是检查合成器的配置、电缆的连接以及系统的完整性。系统测试间隔的时间在诊断显示菜单中。测试时，发射机将把输出功率降低到标称功率TPO的40%。而且，每一个功率放大器，都要经过一个封锁周期。为了准确地运行测试，天线驻波比VSWR必须低于1.2，而且，当前发射机不允许存在仟何故障。如果VSWR太高，测试就会中断。中断时的屏幕上，显示出VSWR过高的指示，但在故障记录中不出现任何故障报告。测试期间，前面板的高开（HIGH—ON）和低开(LOW-ON)按键都不能操作。在输出功率超过标称功率50%的情况下，随时都可以进行测试。如果在测试过程中监测到了故障，就会中断测试，并在故障记录中出现故障的简单说明。维修人员通过按前面板的关机按键OFF，或经过诊断显示屏幕，可以随时中止测试。测试的最后结果，分为中止Aborted、故障FaiLED或者通过Passed3个方面。如果测试过程中监测到了故障，一定要通过故障纪录找出故障产生的原因。运行系统测试时，按前而板诊断显示[HOME，MORE，TESTC]，就会出现硬件测试屏幕显示。按[D1运行测试，按[C]返回到前面的菜单。
由于反复操作发射机，可能在故障记录中出现故障指示，且．中止测试。如果系统测试失败，要注意观察故障记录、然后才能清除故障记录，重新运行测试来验证前面出现的问题。测试过程可以用于一年一次的常规检修，也可以根据实际情况，随时进行测试。例如，把合成器拆下来，或者重新安装时，一定要进行系统测试。再比如说，把Z平面的隔离电阻，以及与隔离器板相连的电缆断开，或者再次连接后，都需要测试系统配置是否正确。
系统测试要按照以下顺序进行：
第一步：功率放大器封锁测试PAMutingTesto运行功率放大器封锁测试时，每一个功率放大器在一次封锁过程中被封锁1秒。然后，控制器检查每一个功率放大器PA的漏电流，这个漏电流值应该接近O。如果功率放大器PA被封锁时，控制器发现功率放大器的漏电流过大，就立刻中止测试，而且出现A#-MUTE-FLT、B#-MUTE-FLT、C#-MUTE-FLT或D#-MUTE-FLT的故障显示。具体的功率放大器PA封锁信息，参考PAMUTE部分的解释。
第二步：功率放大器隔离电阻和热敏电阻的测试PAISOResistorandThermistorTest。
如果PAMUTE测试通过了，就开始检查功率放大器隔离电阻PA-ISO和热敏电阻。这两个方面的测试，实际是在同时进行的。功率放大器PA被封锁的同时，每个功率放大器隔离电阻的温度在几秒钟内就会升高。如果温度不升高，测试就会中止，而且X#-ISO-LOW报告出现在故障记录中。这种故障指示，可能是以下4种情况中的某一个引起的：
1．隔离器板上的射频切换开关(K1~K8)出现问题，最容易产生这种故障。
这些切换开关已经损坏，或者接点开路，就断开了功率放大器PA和隔离电阻之间的连接。由于系统平衡后，这些功率放大器PA才能正常工作。所以，把功率放大器PA封锁后，隔离电阻的温度不会升高，系统也出现不平衡现象，放大器不能正常工作。更换切换开关时，要把相关的隔离器板从发射机上拆下来。每一个功率放大器PA都有自己特定的隔离开关，参照前面关于PA控制器的详细介绍，仔细找出它们之间的对应关系。
例如，测试中止了，故障记录显示B2-ISO-LOW，从表中可以查出，与之相联系的是B平面上的切换开关是K6、隔离电阻是RT6。
2．功率放大器的切换开关，在加电切换后的位置被卡住，也会引起这种故障。因为切换开关卡在这个位置上，隔离电阻就开路了，而且没有电流通过。
但是，出现这种问题后，由于切换开关把功率放大器的射频输出端接到了地上，而此时，控制器还没有封锁功率放大器，所以，功率放大器由于高频短路，可能被损坏。正常情况下，功率放大器的电流大小，决定了功率放大器能够输出多少功率。
3.隔离电阻出现开路现象，也就是说，隔离电阻上没有电流流过，它也不会发热。这些电阻的阻值是50Ω/12W，安装在隔离器板上。
4．热敏电阻从隔离电阻上松动脱离。每个热敏电阻都用环氧树脂粘在隔离电阻上，如果热敏电阻松动脱离，就不能正确地监测到温度的上升情况。维修人员检查一下故障记录，看看隔离电阻上的热敏电阻温度，是否和其他平面上的热敏电阻温度一样，就能判断这个热敏电阻是否正常。
第三步：功率放大器射频切换开关的测试PARFSwitchTest。
如果前面的测试都通过了，功率放大器射频切换开关就加电测试。正常工作的隔离电阻，在2~20秒的时间段内，温度不应该升高。同时，控制器也检查输出功率合成系统中，损耗了多少功率，设法让合成器的配置符合要求。而且，检查功率放大器PA在最初的位置能否正常工作。如果射频切换开关测试过程中，其他部分出现了问题，也出现X#-ISO-SW故障(X代表A、B、C或D)。维修人员根据功率放大器、PA控制器、切换开关和隔离电阻之间的关系表格，能够快速地找到故障部位。
硬件测试：在诊断显示屏幕的测试菜单中，按[D]，就进入硬件测试屏幕，它有三个选择项：1．LCD／LEDTEST。这些测试，是为了验证前面板上的液晶显示屏LCD和发光二极管LED能否正常工作。如果按[B]键，这些指示灯和液晶屏中的显示段都亮，就说明一切正常。
再次按[B]键，就关闭测试。2．EEPROMTEST。这个测试项，是检查主控制器板上电可擦除存储器EEPROMU39的工作情况。U39直接插在集成块座上，其内部存贮着用户的数据和工厂提供的默认设置。在诊断显示菜单中，取消工厂默，认设置，或者更换主控制板时，进行这种测试。如果测试失败，就必须更换U390而且，要按照“系统配置和校准”的完整步骤，连续操作一次。3．MAINDACTESTo控制系统不稳定，反复出现异常现象时，就要借助这种测试来验证出现问题的根源。运行这种测试时，要求有一部示波器，测量主控制器板上的数模转换器DAC(Digital-To-Analog-Con-verter)。测试时，首先要关闭发射机，按前面板上的[HOME，MORE．TESTD，D]，屏幕上显示正在进行的数模转换测试“MainDACTestRuning”。用示波器探头，监测遥控接口端子排上TB1-36(标记为spareout)的波形、或者主控制器上U9的某一脚、或者R47的另一边的波形。这些地方将显示频率为28Hz、峰值为4V的正弦波。如果正弦波存在，说明DAC正在工作。否则，就要严格按照前面介绍的步骤更换主控器板，按[BACK]键，关闭测试。
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