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压力容器制造超声波探伤工艺守则

压力容器制造超声波探伤工艺守则

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  c.检测面是曲面时,应采用CSII标准试块来测定由于曲率不同而引起的声能损失,其形状和尺寸按JB/T4730-2005图6所示。  (3)检测时机   原则上应安排在热处理后,槽、孔、台阶加工前进行。若热处理后锻件形状不适合超声检测时,也可在热处理前进行,但在热处理后仍应对锻件进行尽可能完全的检测。检测面的表面粗糙度Ra为6.3um。  (4)检测方法  锻件一般应进行纵波检测,对筒形锻件还应进行横波检测,但扫查部位和验收标准应由供需双方商定。   a.横波检测按JB4730.3-2005附录C的要求进行。   b.纵波检测按JB4730.3-2005标准第4.2.5.2条规定和图7进行。  (5)检测灵敏度的确定按JB4730.3-2005标准第4.2.6条规定进执行。  (6)工件材质衰减系数按JB4730.3-2005标准第4.2.7条规定执行。  (7)缺陷当量的确定 a.采用AVG曲线计算法确定缺陷当量.对于三倍近场区内的缺陷,可采用单直探头或双晶直探头距离— — 波幅曲线来确定缺陷当量。也可采用其它等效方法来确定。   b.计算缺陷当量时,当材质衰减系数超过4dB/m,应考虑修正。  (8)缺陷记录   a.记录当量直径超过φ4mm的单个缺陷的波幅和位置。 b.密集缺陷:记录密集性缺陷中最大当量缺陷的位置和分布。饼形锻件应记录大于或等于φ4mm当量直径的缺陷密集区,其它锻件应记录大于或等于φ3mm当量直径的缺陷密集区。缺陷密集区面积以50mm×50mm的方块作为最小量度单位,其边界可由6dB法决定。应按表7要求记录底波降低量。  (9)缺陷等级评定   a.单个缺陷的等级评定见表3。   b.底波减低量的等级评定见表4。   c.密集区缺陷等级评定见表5。   d.表3、表4和表5和等级应作为独立的等级分别使用。   e.如果工件的材质衰减对检测效果有较大的影响,应重新进行热处理。   f.如果被检测人员叛定为危害性缺陷时,可以不受上述条件文的限制。 表3单个缺陷的等级评定   mm 等级 I II III IV V 缺陷当量直径 ≤φ4 φ4-(>0-8Db) φ4+(>8-12Db) φ4+(>12-16Db) >φ4+16dB 表4由缺陷引起底部波减低量的等级评定  Db 等级 I II III IV V 底波降低量 BG/BF ≤8 >8-14 >14-20 >20-26 >26  注:本表仅适用于声程大于一倍近场区的缺陷。 表5密集区缺陷的等级评定 等级 I II III IV V 密集区缺陷占检测总面积 的百分比% 0 >0-5 >5-10 >10-20 >20   g. 锻件修补后,应按本标准的要求进行检测和评定。 4. 钢制压力容器焊缝超声检测(见JB/T4730 .3第5条)   (1)检测范围和一般要求   a.本条规定了焊缝缺陷的超声检测方法及检验结果的等级评定。 b.本条适用于母材厚度为8-400mm全焊透熔化焊钢对接焊缝和管座角焊缝的超声检测。 c.本条不适用于铸钢及奥氏体钢焊缝,外径小于159mm的钢管对接焊缝,内径小于或等于200mm的管座角焊缝,也不适用于外径小于250mm或内外径之比小于80%的纵向焊缝检测。   (2)试块    a.应符合JB/T4730.3第3.5条的规定。 b.采用的标准试块为CSK-IA、CSK-IIA和CSK-IIIA。其形状和尺寸应分别符合JB/T4730.3-2005标准中图14、15、16、17和表17规定。 c.CSK-IA、CSK-IIA和CSK-IIIA试块适用壁厚范围为8-120的mm的焊缝,在满足灵敏度要求时,也可采用其它形式的等效试块。 d.检测曲面工件时,如检测面曲率半径R小于等于W2/4(W为探头接触面宽度,环缝检测时为探头宽度,纵缝检测时为探头长度)时,应采用与检测面曲率相同的对比试块。一个对比试块可检其曲率半径0.9-1.5倍的工作。  (3)检测准备   a.检测面 i.压力容器焊缝检测一般用一种K值探头利用一次反射法在焊缝的单面双侧对整个焊接接头进行检测。当母材厚度大于46mm时,采用双面直射波检测。对于要求比较高的焊缝,根据实际需要也可将焊缝余高磨平,直接在焊缝上检测。 ii.检测区域的宽度应是焊缝本身,再加上焊缝两侧各相当于母材厚度30%的一段区域,这个区域最小为10mm。 iii.探头移动区应清除焊接飞溅、铁屑、油垢及其它杂物。检测表面应平整、光滑,便于探头的自由扫查。其表面粗糙度Ra应为6.3um,一般应进行打磨。     ●采用一次反射法检测时,探头移动区应小于1.25P:     P=2TK   式中:P—跨距,mm;                       T—母材厚度,mm;                       K—探头K值;    ●采用直射法检测时,探头移动区应小于0.75P。 iv.去除余高的焊缝,应将余高打磨到与相邻母材平齐。保留余高的焊缝,如果焊缝表面有咬边,较大的隆起和凹陷等也应进行适当的修磨,并作圆滑过渡,以免影响检验结果的评定。   b.探头K值   斜探头的K值选取可参照表6的规定,条件允许时应尽量采用较大K值探头。 表6推荐应用的斜探头K值 板厚 K值 8-25 3.0-2.0 >25-46 2.5-1.5 >46-120 2.0-1.0 >120-300 2.0-1.0   a.母材的检测 斜探头扫查束通过的母材区域,应先用直探头检测,以便检测是否有影响斜探头检测结果的分层或其它种类缺陷存在。该项检测仅作记录,不属于对母材的验收检测。母材检测的规程要点如下:  i.方法:接触式脉冲反射法,采用频率2-5MHz的直探头,晶片直径10-25mm。  ii.灵敏度:将无缺陷处第二次底波调节为荧光屏满刻度的100%。  iii.记录:凡缺陷信号幅度超过荧光屏满刻度20%的部位,应在工件表面作出标记,并予以记录。 (4).距离一波幅曲线的绘制 a.距离一波幅曲线按所用探头和仪器在试块上实测的数据绘制而成,该曲线族由评定线、定量线和判废线组成,评定线与定量线之间(包括评定线)为I区,定量线与判废线之间(包括定量线)为II区,判废线及其以上区为III金黄色。如图2所示。       b.距离——波幅曲线的灵敏度选择 i. 壁厚为6-120mm的焊缝其距离—波幅曲线灵敏度按JB/T4730-2005表19规定。 ii. 壁厚大于120mm至400mm的焊缝接头,其距离—波幅曲线灵敏度按JB/T4730-2005表20规定。 iii.检测横向缺陷时,应将各线灵敏度均提高6dB。 iv.检测面曲率半径R小于或等到于W2/4时,距离—波幅曲线的绘制应在曲面对比试块上进行。 v.工件的表面耦合损失和材质衰减应与试块相同,否则应进行补偿。 vi.扫查灵敏不低于最大声程处和评定线灵敏度。 (5).检测方法 a.平板对接焊缝的检测按JB/T4730.3-2005标准规定第5.1.6.1标准规定执行。 b.曲面工件对接焊缝的检测按JB/T4730-2005标准第5.1.6.2条规定执行。 (6)缺陷定量检测 a.灵敏度应调到定量线灵敏度。 b.对所有反射波幅超过定时线的缺陷,均应确定其位置,最大反射波幅和缺陷当量。 c.缺陷定量应根据缺陷最大反射波幅确定缺陷当量直径φ或缺陷指示长度△L。 i.缺陷当量直径φ,用当量平底孔直径表示,主要用于直探头检测,可彩公式计算,距离—波幅曲线和试块对比来确定缺陷当量尺寸。  ii.缺陷指示长度△L的测定彩以下方法:    ●当缺陷反射波只有一个高点,且位于II区时,用6dB发测其指示长度。 ●当缺陷反射波峰值起仪变化,有多个高点,且位于II时,应以端点6dB法测其指示长度。 ●当缺陷反射波峰位于I区,如认为有必要记录时,将探头左右移动,使波幅降到评定线,以此测定缺陷指示长度。   (7)缺陷评定 a.超过评定线的信号应注意其是否具有裂纹等危害性缺陷特征,如有怀疑时,应采取改变探头K值,增加检测面、观察动态波型并结合结构工艺特征作判断,如对波型不能判断时,应辅助以其他检测方法作综合判定。   b.缺陷指示长度小于10mm时按5mm计算。 c.相邻两缺陷在一直线上,其间距小于其中较小的缺陷长度时,就作为一条缺陷处理,以两缺陷长度之长作为其指示长度(不考虑间距)。 (8)缺陷等级评定   a.不允许存在下列缺陷:    i.反射波幅位于判废线及III区的缺陷;    ii.检测人员判定不裂纹等危害性缺陷;    b.最大反射波幅位于II区的缺陷,应根据起长度按表7的规定予以评级。   c.最大反射波幅低于定量线的非裂纹类缺陷,均评为I级。 d.不合格的缺陷应予以返修。返修部位及热影响区仍按本标准进行检测和等级评定。 表7II区缺陷的等级评定 等级

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