压力容器制造超声波探伤工艺守则
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c.检测面是曲面时,应采用CSII标准试块来测定由于曲率不同而引起的声能损失,其形状和尺寸按JB/T4730-2005图6所示。
(3)检测时机
原则上应安排在热处理后,槽、孔、台阶加工前进行。若热处理后锻件形状不适合超声检测时,也可在热处理前进行,但在热处理后仍应对锻件进行尽可能完全的检测。检测面的表面粗糙度Ra为6.3um。
(4)检测方法
锻件一般应进行纵波检测,对筒形锻件还应进行横波检测,但扫查部位和验收标准应由供需双方商定。
a.横波检测按JB4730.3-2005附录C的要求进行。
b.纵波检测按JB4730.3-2005标准第4.2.5.2条规定和图7进行。
(5)检测灵敏度的确定按JB4730.3-2005标准第4.2.6条规定进执行。
(6)工件材质衰减系数按JB4730.3-2005标准第4.2.7条规定执行。
(7)缺陷当量的确定
a.采用AVG曲线计算法确定缺陷当量.对于三倍近场区内的缺陷,可采用单直探头或双晶直探头距离— — 波幅曲线来确定缺陷当量。也可采用其它等效方法来确定。
b.计算缺陷当量时,当材质衰减系数超过4dB/m,应考虑修正。
(8)缺陷记录
a.记录当量直径超过φ4mm的单个缺陷的波幅和位置。
b.密集缺陷:记录密集性缺陷中最大当量缺陷的位置和分布。饼形锻件应记录大于或等于φ4mm当量直径的缺陷密集区,其它锻件应记录大于或等于φ3mm当量直径的缺陷密集区。缺陷密集区面积以50mm×50mm的方块作为最小量度单位,其边界可由6dB法决定。应按表7要求记录底波降低量。
(9)缺陷等级评定
a.单个缺陷的等级评定见表3。
b.底波减低量的等级评定见表4。
c.密集区缺陷等级评定见表5。
d.表3、表4和表5和等级应作为独立的等级分别使用。
e.如果工件的材质衰减对检测效果有较大的影响,应重新进行热处理。
f.如果被检测人员叛定为危害性缺陷时,可以不受上述条件文的限制。
表3单个缺陷的等级评定 mm
等级
I
II
III
IV
V
缺陷当量直径
≤φ4
φ4-(>0-8Db)
φ4+(>8-12Db)
φ4+(>12-16Db)
>φ4+16dB
表4由缺陷引起底部波减低量的等级评定 Db
等级
I
II
III
IV
V
底波降低量
BG/BF
≤8
>8-14
>14-20
>20-26
>26
注:本表仅适用于声程大于一倍近场区的缺陷。
表5密集区缺陷的等级评定
等级
I
II
III
IV
V
密集区缺陷占检测总面积
的百分比%
0
>0-5
>5-10
>10-20
>20
g. 锻件修补后,应按本标准的要求进行检测和评定。
4. 钢制压力容器焊缝超声检测(见JB/T4730 .3第5条)
(1)检测范围和一般要求
a.本条规定了焊缝缺陷的超声检测方法及检验结果的等级评定。
b.本条适用于母材厚度为8-400mm全焊透熔化焊钢对接焊缝和管座角焊缝的超声检测。
c.本条不适用于铸钢及奥氏体钢焊缝,外径小于159mm的钢管对接焊缝,内径小于或等于200mm的管座角焊缝,也不适用于外径小于250mm或内外径之比小于80%的纵向焊缝检测。
(2)试块
a.应符合JB/T4730.3第3.5条的规定。
b.采用的标准试块为CSK-IA、CSK-IIA和CSK-IIIA。其形状和尺寸应分别符合JB/T4730.3-2005标准中图14、15、16、17和表17规定。
c.CSK-IA、CSK-IIA和CSK-IIIA试块适用壁厚范围为8-120的mm的焊缝,在满足灵敏度要求时,也可采用其它形式的等效试块。
d.检测曲面工件时,如检测面曲率半径R小于等于W2/4(W为探头接触面宽度,环缝检测时为探头宽度,纵缝检测时为探头长度)时,应采用与检测面曲率相同的对比试块。一个对比试块可检其曲率半径0.9-1.5倍的工作。
(3)检测准备
a.检测面
i.压力容器焊缝检测一般用一种K值探头利用一次反射法在焊缝的单面双侧对整个焊接接头进行检测。当母材厚度大于46mm时,采用双面直射波检测。对于要求比较高的焊缝,根据实际需要也可将焊缝余高磨平,直接在焊缝上检测。
ii.检测区域的宽度应是焊缝本身,再加上焊缝两侧各相当于母材厚度30%的一段区域,这个区域最小为10mm。
iii.探头移动区应清除焊接飞溅、铁屑、油垢及其它杂物。检测表面应平整、光滑,便于探头的自由扫查。其表面粗糙度Ra应为6.3um,一般应进行打磨。
●采用一次反射法检测时,探头移动区应小于1.25P:
P=2TK 式中:P—跨距,mm;
T—母材厚度,mm;
K—探头K值;
●采用直射法检测时,探头移动区应小于0.75P。
iv.去除余高的焊缝,应将余高打磨到与相邻母材平齐。保留余高的焊缝,如果焊缝表面有咬边,较大的隆起和凹陷等也应进行适当的修磨,并作圆滑过渡,以免影响检验结果的评定。
b.探头K值
斜探头的K值选取可参照表6的规定,条件允许时应尽量采用较大K值探头。
表6推荐应用的斜探头K值
板厚
K值
8-25
3.0-2.0
>25-46
2.5-1.5
>46-120
2.0-1.0
>120-300
2.0-1.0
a.母材的检测
斜探头扫查束通过的母材区域,应先用直探头检测,以便检测是否有影响斜探头检测结果的分层或其它种类缺陷存在。该项检测仅作记录,不属于对母材的验收检测。母材检测的规程要点如下:
i.方法:接触式脉冲反射法,采用频率2-5MHz的直探头,晶片直径10-25mm。
ii.灵敏度:将无缺陷处第二次底波调节为荧光屏满刻度的100%。
iii.记录:凡缺陷信号幅度超过荧光屏满刻度20%的部位,应在工件表面作出标记,并予以记录。
(4).距离一波幅曲线的绘制
a.距离一波幅曲线按所用探头和仪器在试块上实测的数据绘制而成,该曲线族由评定线、定量线和判废线组成,评定线与定量线之间(包括评定线)为I区,定量线与判废线之间(包括定量线)为II区,判废线及其以上区为III金黄色。如图2所示。
b.距离——波幅曲线的灵敏度选择
i. 壁厚为6-120mm的焊缝其距离—波幅曲线灵敏度按JB/T4730-2005表19规定。
ii. 壁厚大于120mm至400mm的焊缝接头,其距离—波幅曲线灵敏度按JB/T4730-2005表20规定。
iii.检测横向缺陷时,应将各线灵敏度均提高6dB。
iv.检测面曲率半径R小于或等到于W2/4时,距离—波幅曲线的绘制应在曲面对比试块上进行。
v.工件的表面耦合损失和材质衰减应与试块相同,否则应进行补偿。
vi.扫查灵敏不低于最大声程处和评定线灵敏度。
(5).检测方法
a.平板对接焊缝的检测按JB/T4730.3-2005标准规定第5.1.6.1标准规定执行。
b.曲面工件对接焊缝的检测按JB/T4730-2005标准第5.1.6.2条规定执行。
(6)缺陷定量检测
a.灵敏度应调到定量线灵敏度。
b.对所有反射波幅超过定时线的缺陷,均应确定其位置,最大反射波幅和缺陷当量。
c.缺陷定量应根据缺陷最大反射波幅确定缺陷当量直径φ或缺陷指示长度△L。
i.缺陷当量直径φ,用当量平底孔直径表示,主要用于直探头检测,可彩公式计算,距离—波幅曲线和试块对比来确定缺陷当量尺寸。
ii.缺陷指示长度△L的测定彩以下方法:
●当缺陷反射波只有一个高点,且位于II区时,用6dB发测其指示长度。
●当缺陷反射波峰值起仪变化,有多个高点,且位于II时,应以端点6dB法测其指示长度。
●当缺陷反射波峰位于I区,如认为有必要记录时,将探头左右移动,使波幅降到评定线,以此测定缺陷指示长度。
(7)缺陷评定
a.超过评定线的信号应注意其是否具有裂纹等危害性缺陷特征,如有怀疑时,应采取改变探头K值,增加检测面、观察动态波型并结合结构工艺特征作判断,如对波型不能判断时,应辅助以其他检测方法作综合判定。
b.缺陷指示长度小于10mm时按5mm计算。
c.相邻两缺陷在一直线上,其间距小于其中较小的缺陷长度时,就作为一条缺陷处理,以两缺陷长度之长作为其指示长度(不考虑间距)。
(8)缺陷等级评定
a.不允许存在下列缺陷:
i.反射波幅位于判废线及III区的缺陷;
ii.检测人员判定不裂纹等危害性缺陷;
b.最大反射波幅位于II区的缺陷,应根据起长度按表7的规定予以评级。
c.最大反射波幅低于定量线的非裂纹类缺陷,均评为I级。
d.不合格的缺陷应予以返修。返修部位及热影响区仍按本标准进行检测和等级评定。
表7II区缺陷的等级评定
等级
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