6、 行激励不足
如果行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性变差；如果行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察激励级的波形，可帮助找到故障原因。
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器初级烧组上的滤波电容变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失效造成滤波不良。
7、 环境潮湿
这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终导致损坏行管。
8、 行偏转线圈开路
此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈及其回路开路的情况下，如果长时间通电检修，是极危险的。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流而击穿。
此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过流击穿。
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受附近大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，逆程二极管等引脚虚焊
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造成瞬间的接通与截止，尖峰电压很容易烧毁电源管和行管。
12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管或阻尼电阻的行管
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，如果测量方法不当也会瞬间烧行管。
13、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，容易出现高压打火现象。高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高压嘴。
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