图5：使用外部硬件的调试工具
图字：信号探测 将波形从电路板中倒出，进行调试 外部硬件(特定工具) 逻辑设计
假设/优势
● 对于I/O数量相对较大的设计可以采用此调试方法，因为它不需要在电路板的顶层提取内部信号。
● 此方法可以用于设计仿真良好、但一旦集成到FPGA中、就不显示预期行为的情况。同样，调试这些问题需要不仅提供实时调试，而且还有信号探测功能的工具。
● 这些工具使调试过程变得相对容易，因为它们通常将波形/数据转储为使用最常用的仿真工具可以打开的格式。
● 这样的调试工具还能储存在自己的相关存储器中捕获的波形，它消耗FPGA板的资源，因而通常不用限制设计。
局限性
● 必需安装外部硬件和软件。
● 调试节点有数量限制。
● 设计层次的可见性取决于用于储存转储数据的存储器。
● 可获得的频率降低。
解决方法之一是：采用来自一个特定分层体或模块的插装信号创建同步build，这样，可以采用调试模块或块的信号在比特流上运行一组测试。在执行阶段遇到问题后，这肯定会节省创建build的时间。
本文小结
很显然，现在还没有出现公认的通用调试技术，而且没有适合所有设计验证的调试技术。不同的调试技术有不同的局限性和限制，但是，如果选择得当，这些调试工具/技术真的可以有助于减少调试工作，缩短调试周期。
缩短调试时间可能成为加快硅前验证的一个伟大的里程碑。加快硅前验证是首要要求，这样才能满足上市时间需求，能够推出第一个全功能硅。
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