表1
表1是实际经过测试实验之后所得到ADC测试方法的比较表。分割直方图法不需要专属的测试硬体便能达到高解析度、高速以及准确性的ADC测试.
即时DSP应用
其他复杂的混合讯号应用例还包括如使用即时DSP架构的通讯元件测试。每个测试设备的分散DSP单元可以产生和分析复杂的讯号进行资料处理和计算，而量测讯号则作为测试设备和DUT的介面。图8是jitter generation的范例。施加ISDN 2B1Q讯号，the可变系数的有限脉冲滤波器(coefficient-variable FIR Finite Impulse Response fiLTEr)设计成具有0.0008 UI (Unit Interval)解析度的七阶讯号并在AWG产生即时讯号的期间进行操作。
另一个有趣的即时DSP应用例为数位个人手机(Personal Handy Phone，PHP) 基频元件的PI/4-Shift-DQPSK向量误差测试。由DUT输出的I-讯号和Q-讯号使用两个768KHz取样速率的数位波形进行测试，这个速率为PHP symbol rate的四倍。I-讯号和Q-讯号的数位资料内差到512倍并在分散即时DSP单元的Root Nyquist滤波器进行处理。图9是DSP 所形成得单元环的丛集图。
图8：Eye Pattern with Jitter (0.3 U I)
图9：Pl/4-Shift-DQPSK丛集
图10：Strobe时脉和向量误差
向量误差定义为丛集的暗区点：
公式(5)
基频元件测试的DUT系统时脉和数位化strobe时脉之间的同步准确性必须小于1%的向量误差。图10是量测误差和strobe时脉偏移的关系。藉由多速率滤波器，即时DSP可以达到0.2 sec以内的向量误差测试和最佳化的计算点，测试速率会优于专用机。
结论
混合讯号元件测试包括产生和测量各种不同可变频率的讯号。这些讯号需要复杂的序列控制以符合DUT的测试条件。本文证实双主时脉和主/从多序列的方式可以在实际操作环境下提供即时控制l的混合讯号复杂且快速的的测试。16 位元ADC的整体线性测试具有20位元的解析度，所使用的分割直方图法比传统的类比量测的测试速率快十倍。
因此，分散即时DSP的特性证实可以产生和分析复杂的混合讯号和2B1Q ISDN讯号和PI/4-Shift-DQPSI基频元件向量误差测试的操作测试。这种测试机架构可以适用在各种通用的测试机。
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