此类渐变和低效元件的难于检测，主要由两个原因造成。
(1)检测工具的局限。最常用检测工具为数字和指针式万用表，万用表仅能对外电路或测量元件提供低电压和小电流的检测条件，对有些器件，如直流回路的储能电容的电极引线电阻的出现，须在高电压和大电流的状态下进行检测，才能得出结论。在线光耦器件内部晶体管的低效等，电容表和万用表确实对此无能为力。
(2)检测方法的问题。检测元器件，往往进行单一性的检测，如仅仅检测元件引脚电阻，或仅仅检测在线电压，或习惯用一只表检测元器件的好坏。
应该拓展检测手段和检测方法。如对逆变模块和高耐压元件的检测，可利用耐压测试仪或借用500V绝缘电阻表，对元件进行电压击穿测试。
如检测光耦器件，可从线路板上拆下，用一只指针式万用表的×10k挡测试输入侧正向电阻（同时提供正向导通电流）值，用另一只万用表，同时测试输出侧三极管的导通电阻值，将测试结果与好的同型号光耦器件相对照，则不难检测出低效元件。或者用外加电源，在光耦输入侧送入10mA工作电流，对比测试其输出端引脚的电阻值，则更易得出正确的判断。
总之，要采用灵活多样的测试手段和检测方法，强化自己的检测能力和提高检测的准确度，使“伪好元件”暴露出来。
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