图4.1
如图4.1所示电路原理图是用于HF标签匹配性测量的测试选件电路，使用亥姆霍兹双线圈测试技术，
不仅可以测量标签谐振频率还可以测量出磁偶极矩和Q值。图4.2为一款HF标签产品匹配性能测试照片，可清楚地反应产品谐振频率及磁偶极矩大小。
图4.2
UHF标签可使用2.3.2中所述的磁探针耦合功率测试法。磁探针耦合功率测试法不仅可以对天线进行测试，也可以用于标签测试。可以清楚地反应出标签谐振频率，可以通过谐振频率进一步确定阻抗匹配情况及设计优化调整。
由磁探针耦合功率测试图谱知，标签谐振频率与天线芯片并联输入阻抗最大值相对应。可由天线输入阻抗、芯片输入阻抗及并联输入阻抗的关系，通过推算值确定匹配系数。另外附以由灵敏度测试曲线图，可确认匹配设计调整方向，优化匹配值，从而提高标签性能。
5结束语
应用于复杂介质环境下RFID标签，只要掌握了适合的设计方法，不仅易于达到预期的设计目标，还会使原本复杂的工作变得简单化，设计目标、设计 周期、设计成本透明化。不要再通过制作一大堆各种形状天线通过性能测试或试验，来选择适合的天线了，因为我们已经知道什么样的天线才是适合的。
