简易元器件测试器设计与分析

　本测试器可用来测试晶体三极管、二极管、LED、（单双向）可控硅、电容和开关的通断特性，电路见图1（）。

　　测晶体三极管时，将引脚分别插入C、B、E，并根据三极管类型置好NPN/PNP开关，按下S1，如晶体三极管良好，相应的LED便会发光。
　　测二极管时，阳极和阴极分别接在“+”和“-”端，开关置于NPN位置，LED1应发光。
　　测LED时，将LED的阳极和阴极分别插入B、E，开关置于NPN位置，按下S1，被测LED应发光。
　　测单向可控硅时，将开关置于NPN位置，将引脚A、K、G分别连接C、E、B，按下S1放开后，LED1应仍保留在发光状态。
　　测双向可控硅时，将开关置于NPN位置，将引脚T1、T2、G分别连接C、E、B，按下S1，LED1应发光，松开后应熄灭。
　　测电容时，将电容两端在分别连接“+”和“-”端，来回掀动NPN/PNP开关，LED1和LED2应轮流发光，表示电容良好，但不能得出电容值。
　　测开关通断时，NPN/PNP开关置于任意位置，将被测开关接入“+”和“-”，如待测开关闭合且是好的，根据NPN/PNP开关位置的不同，LED1或LED2就发光，否则开关未闭合或开关已坏。

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