(2)Test bench的建立
依据器件功能，建立Test bench平台，用来输入仿真向量。
Test bench中变量定义：
reg dir1，dir2，oe1，oe2;//输入控制端
reg[0：7] a1，a2，b1，b2;//数据端
reg[0：7] A1_out[0：7];//存储器，用来存储数据
reg[0：7] A2_out[0：7];
reg[0：7] B1_out[0：7];
reg[0：7] B2_out[0：7];
通过Test bench提供测试激励，经过缓冲区接口送入DUT，观察DUT输出响应，如果满足器件功能要求，则存储数据，经过处理按照ATE图形文件格式产生*.MDC文件;若输出响应有误，则返回Test bench和DUT模型进行修正。其原理框图可表示如图6所示。
图6 Test bench验证平台框图
(3)仿真和验证
通过Test bench给予相应的测试激励进行仿真，得到预期的结果，实现了器件功能仿真，并获得了测试图形。图7和图8为部分仿真结果。
图7仿真数据结果
在JC-3165的*.MDC图形文件中，对输入引脚，用“1”和“0”表示高低电平;对输出引脚，用“H”和“L”表示高低电平：“X”则表示不关心状态。由于在仿真时，输出也是“0”和“1”，因此在验证结果正确后，对输出结果进行了处理，分别将“0”和“1”转换为“L”和“H”，然后放到存储其中，最后生成*.MDC图形文件。
图8生成的*.MDC文件
3结论
本文在Modelsim环境下，通过Verilog HDL语言建立一个器件模型，搭建一个验证仿真平台，对164245进行了仿真，验证了164245的功能，同时得到了ATE所需的图形文件，实现了预期所要完成的任务。
随着集成电路的发展，芯片设计水平的不断提高，功能越来越复杂，测试图形文件也将相当复杂且巨大，编写出全面、有效，且基本覆盖芯片大多数功能的测试图形文件逐渐成为一种挑战，在ATE上实现测试图形自动生成已不可能。因此，有必要寻找一种能在EDA工具和ATE测试平台之间的一种灵活通讯的方法。
目前常用的一种方法是，通过提取EDA工具产生的VCD仿真文件中的信息，转换为ATE测试平台所需的测试图形文件，这需要对VCD文件有一定的了解，也是进一步的工作。
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