T/R组件波束控制测试设计方案

    5 结论

    波束控制电路专用性强，输入输出接口较多，时序严格，逻辑功能复杂，其测试较为复杂。本文提出一种测试方案。该方案简单，易于实现，充分利用FPGA丰富的IO 资源及可编程特点，很好地解决了波束控制电路测试中的难点。同时，该方法易于实现常规波控电路测试系统的通用性，仅仅需要定义好测试系统转接部分的输入接口，以及编写不同的发送和接收程序，便可实现常规波控电路的通用性。

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