一种能应用于通用自动测试仪的SPI 存储器测试方法

    以上方法，首先完成了逐页的连续写操作，页地址可自动递增，每完成一次正向棋盘格(按0101 格式)写操作后，再以0 地址为起始地址，完成整个器件地址自动递增的连续读操作。然后再按照相同的方法执行一次反向棋盘格(按1010 格式)的写、读，从而实现完整的棋盘格测试。

    3.2 其他测试算法

    在实际工程中应用最多的是存储器测试法算法复杂度为N的测试算法，除棋盘格测试法外，较为常用的还有齐步法、列条图形法和前进后退法等。应用这些算法测试SPI 存储器都与棋盘格测试类似，只是AGP 自动产生算法的方式不同，本文不再详述。

    4 结语

    本文分析了SPI 串行存储器的结构和访问方式，利用通用自动测试仪的并行转串行指令，增加了选通控制逻辑，为ATMEL公司的SPI 串行存储器AT25HP512 编写了测试程序，该程序最终以二进制代码的形式顺序存储于测试仪中。实验证明，该方法可以克服SPI 存储器地址算法自动产生的困难，对该类芯片测试具有通用性。

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