图 9. IBPM配置流程图
7、 GC6016 发送测试信号
GC6016可以发送测试信号用于系统调试定位或者发射通道性能测试。GC在 BB或者 DDUC内部通过简单的配置即可发射单音(常数配合nco)、lfsr及 ramp等测试信号，极大地方便调测以及问题定位。
BB side发射测试信号的流程如下图所示。该testgen的位置在 BBGAin之前，BB FIFO之后。如果需要dISAble该功能，只需将对应的testmode bit清 0即可。
需要注意，如果要在测试模式下修改信号幅度，则需要先退出测试模式，修改完测试信号幅度之后再次启动测试模式。
图 10. BB test gen启动流程图
DDUC side发射测试信号的流程如下图所示。该testgen的位置在每个DDUC的 Farrow处。需要说明的是，该配置会导致 GC配置被修改，因此需要在 disable testgen之前将对应寄存器修改回原值。对于多载波系统，建议在summer mapPINg环节关掉多余载波，只保留单载波用于测试。
图 11. FRW testgen 启动流程图
需要说明的是，如果通过BB或者DDUC发送单音，则需要考虑各级滤波器的影响。
GC也支持从BUC发送 test pattern测试和DAC的接口。也支持 BUC发送常数，然后调整 buc nco的模式发单音测试 DAC。
8、 GC6016频点配置流程
用户可能会修改载波频点。该功能可通过如下流程实现。注意频率控制字为48bit。
图 12. GC6016频点配置流程图
用户也可能会修改 nco的相位。相位的计算公式如下：phase(度)=360*value/65535. 每一个载波有对应的相位寄存器，写入需要的相位值之后，再用对应的同步是能寄存器同步一下即可。
9、 总结
本文详细说明了GC6016中用户常用功能的配置流程。本文的一些内容对于 GC5330的调试和定位也有所助益。作者希望本文能对用户开发、调试 GC6016提供指导和帮助。
本文关键字：用户 射频技术-RFID，通信技术 - 射频技术-RFID
